Испытания надежности печатных плат при высоких и низких температурах: проверка срока службы платы в условиях термической нагрузки.
2026-04-03 16:25Температура является основным фактором окружающей среды, влияющим на надежность печатных плат. От экстремально низких температур на улице (минус несколько десятков градусов) до высоких температур внутри оборудования (сотни градусов) печатная плата всегда находится в условиях теплового расширения и сжатия. Испытания на надежность печатных плат при высоких и низких температурах оценивают структурную стабильность и электрические характеристики плат в условиях теплового воздействия путем имитации экстремальных перепадов температуры и являются основным элементом тестирования высоконадежных печатных плат в автомобильной электронике, военной промышленности и системах промышленного управления.

Печатные платы состоят из эпоксидных/полиимидных подложек, медной фольги, припоя, керамических компонентов и других разнородных материалов, при этом коэффициент теплового расширения (КТР) различных материалов сильно различается: КТР меди составляет около 17 ppm/°C, КТР эпоксидной подложки — 13-50 ppm/°C, КТР припоя — около 25 ppm/°C, а КТР керамических компонентов — всего 6-8 ppm/°C. При изменении температуры окружающей среды материалы расширяются или сжимаются с разной скоростью, создавая сдвиговые и растягивающие напряжения в местах соединения. Кратковременные изменения температуры вызывают меньшее напряжение и не приводят к явному разрушению, но длительные многократные температурные циклы продолжают накапливать напряжение, в конечном итоге приводя к усталостному повреждению печатной платы, что является основным принципом испытаний при высоких и низких температурах. ускорение термической усталости старения.
Испытания печатных плат при высоких и низких температурах в основном делятся на две категории: испытания на температурные циклы и испытания на холодовой и горячий шокМежду ними существуют очевидные различия в прочности на растяжение и сценариях применения. Испытание на температурный цикл является наиболее распространенным методом проверки при высоких и низких температурах. Испытательное оборудование представляет собой камеру для испытаний с чередованием высоких и низких температур, где с помощью программы осуществляется медленное переключение между диапазонами высоких и низких температур. Скорость повышения и понижения температуры обычно составляет 1-5°C/мин, время пребывания в одной температурной зоне — 15-30 минут, что имитирует незначительные изменения температуры, вызванные запуском и остановкой оборудования и сменой сезонов. Общий диапазон температур в промышленности составляет -40°C~125°C, количество циклов — 500-1000 раз. В бытовой электронике этот диапазон упрощен до -20°C~85°C, а в автомобильной электронике необходимо соблюдать строгие требования -55°C~150°C.
Испытания на термический и холодовой шок — это проверка на экстремальные термические нагрузки, позволяющая печатной плате быстро переходить от высокой температуры (125°C) к низкой температуре (-55°C) в двух- или трехкамерной камере для ударных испытаний. Время перехода составляет менее 1 минуты, что мгновенно создает огромные термомеханические нагрузки и ускоряет выявление потенциальных дефектов на печатной плате. Этот тест в основном используется в экстремальных условиях эксплуатации, например, для печатных плат в военной, аэрокосмической и автомобильной промышленности, и позволяет быстро отсеивать изделия с недостаточной термической стабильностью. Цикл испытаний значительно короче, чем цикл температурных испытаний, но повреждения печатной платы также более серьезны.
В отрасли существует совершенная система стандартов для испытаний при высоких и низких температурах, включающая IPC-TM-650 2.6.7 (метод испытаний печатных плат на температурные циклы), JEDEC JESD22-A104 (стандарт циклических испытаний полупроводников и паяных соединений печатных плат на температуру), IEC 60068-2-14 (испытание на изменение температуры); к отечественным стандартам относятся GB/T 2423.22 (испытание на чередование высоких и низких температур) и GJB 150.3A (испытание на высокие/низкие температуры для военной техники). Специальным стандартом для автомобильной электроники является AEC-Q104, который четко определяет параметры испытаний при высоких и низких температурах и критерии отказов автомобильных печатных плат, что является пороговым значением для печатных плат электромобилей.
Процесс тестирования строго соответствует стандартизированным этапам: сначала проводится предварительное тестирование образца, регистрируются начальные значения сопротивления в открытом состоянии, сопротивления изоляции и импеданса печатной платы с помощью мультиметра и LCR-тестера, а также проводится визуальный осмотр и рентгеновское сканирование для подтверждения отсутствия начальных трещин в паяных соединениях или дефектов подложки; затем печатная плата фиксируется в испытательной камере с помощью специального оборудования, чтобы избежать смещения во время тестирования, и устанавливается температурный диапазон, скорость повышения и понижения температуры, а также количество циклов в соответствии со стандартом. Во время тестирования изменения электрических характеристик регистрируются в режиме реального времени с помощью оборудования онлайн-мониторинга, а после завершения тестирования проводится комплексное тестирование, включающее визуальный осмотр (вздутие паяной маски, расслоение подложки, растрескивание компонентов), рентгеновский контроль (паяные соединения BGA, внутренние трещины в сквозных отверстиях) и тестирование электрических характеристик (скорость изменения сопротивления ≤5%, сопротивление изоляции ≥100 МОм).
Типичные виды отказов печатных плат в условиях высоких и низких температур в основном сосредоточены в трех областях: паяные соединения, сквозные отверстия и подложкиПод воздействием термических циклов на границе раздела между контактной площадкой и припоем образуются микротрещины, и с увеличением числа циклов трещины продолжают расширяться, в конечном итоге приводя к разрыву паяного соединения, особенно это касается паяных соединений корпусированных устройств, таких как BGA и QFN, которые более подвержены отказам из-за концентрации напряжений. Прорыв сквозных отверстий в многослойных печатных платах связан с линиями различных внутренних слоев, а осевое напряжение, возникающее из-за термического расширения и сжатия, вытягивает медные отверстия, что приводит к растрескиванию медного слоя и разрыву линий. Повреждение подложки включает расслоение смолы, разрушение стекловолокна и отслоение паяльной маски, главным образом из-за неправильного выбора подложки или дефектов процесса прессования.
Для решения проблемы отказов при высоких и низких температурах можно оптимизировать надежность по трем направлениям: конструкция, материал и технологический процесс. Что касается выбора материалов, в высоконадежных печатных платах используются высокочастотные и высокоскоростные подложки с низким коэффициентом теплового расширения (например, высокочастотные материалы Rogers и Shengyi) для уменьшения разницы в тепловом расширении. Паяные соединения изготавливаются из припоя с улучшенной прочностью, а конструкция контактной площадки оптимизируется для увеличения площади напряжений в паяном соединении. В плане конструктивного проектирования избегается размещение крупных компонентов в зонах концентрации напряжений печатной платы, добавляются ребра жесткости или крепежные отверстия, а также уменьшается амплитуда термической деформации. Сквозные отверстия выполнены из утолщенной меди и глухих заглубленных отверстий для повышения сопротивления растяжению. В плане технологического процесса строго контролируются температура и давление прессования для обеспечения прочности сцепления между слоями подложки, оптимизируется температурная кривая пайки оплавлением и снижается остаточное напряжение внутри паяного соединения.
С развитием высокоплотной интеграции печатных плат обостряются проблемы надежности при высоких и низких температурах для 3D-MID, жестко-гибких плат и сверхтонких печатных плат. Коэффициенты теплового расширения жестких и гибких областей жестко и жестко склеенных пластин сильно различаются, и при термических циклах высока вероятность разрушения соединений. Жесткость подложки сверхтонких печатных плат недостаточна, и они легко деформируются при высоких температурах, что влияет на стабильность пайки компонентов. Для этих новых печатных плат необходимо оптимизировать параметры испытаний при высоких и низких температурах, используя более плавные темпы повышения и понижения температуры, увеличивая количество циклов и обеспечивая их стабильность в экстремальных температурных условиях.
Испытания при высоких и низких температурах являются не только средством проверки качества продукции, но и важной основой для оптимизации НИОКР. Анализ отказов позволяет точно выявлять дефекты материалов и процессов, а также направлять процесс модернизации конструкции печатных плат в обратном порядке.
Получить последнюю цену? Мы ответим как можно скорее (в течение 12 часов)